技術(shù)文章
主要現象 | 可能原因 | 解決方案 |
等離子體點(diǎn)燃失敗 | 1聯(lián)鎖保護;2 氬氣不純;3進(jìn)樣系統漏氣;4 矩管臟了或者潮濕; 5參數不合適;6 截取錐或樣品錐損壞; | a 確保儀表板上的所有聯(lián)鎖都處于正常狀態(tài)。如果聯(lián)鎖有問(wèn)題參考聯(lián)鎖保護。確保氣體管路連接牢固且無(wú)纏結; |
b 確保氬氣質(zhì)量>99.995%,可通過(guò)更換不同批次氬氣來(lái)排除。 | ||
c 確保儀表板上的氣流回讀值正確無(wú)誤。 | ||
d 確保蠕動(dòng)泵泵管完好無(wú)損,不漏氣。確保霧化器與霧化室連接處密封良好,不漏氣。確保霧化室完好無(wú)損,沒(méi)有積液。確保中心管正確插入炬管內且完好無(wú)損。確保炬管完好無(wú)損且無(wú)裂痕或熔化。 | ||
e 確保炬管干燥無(wú)水。確保炬管安裝到位,對準正確部位.確保炬管底座O型圈清潔無(wú)塵,無(wú)龜裂老化現象。確保工作線(xiàn)圈完好無(wú)損且無(wú)打火痕跡。 | ||
f 確保截取錐和樣品錐完好無(wú)損,安裝到位。 | ||
g 確保循環(huán)水符合導電要求。 | ||
h 檢測儀器參數。 | ||
使用中突然熄滅 | 1管路、霧化室、霧化器及中心管固定處連接漏氣; 2霧化室積水或者進(jìn)樣毛細管長(cháng)時(shí)間放于空氣中;3 各類(lèi)內鎖保護突然關(guān)閉或者不能滿(mǎn)足條件;4 測定樣品類(lèi)型與試驗條件及硬件不匹配 | a 檢查并正確連接管路; |
b檢查泵管連接方向及是否壓緊泵夾,防止進(jìn)樣毛細管長(cháng)時(shí)間放于空氣中; | ||
c 注意屏幕上錯誤提示,檢查對應內鎖保護(排液,排風(fēng),氣體,水等); | ||
真空故障 | 1 密封圈損壞;2 真空連接管線(xiàn)損壞;3 室溫太低,泵油粘度大,造成機械泵過(guò)流保護;4 氬氣壓力不正確 | a 開(kāi)機之前,要確保氬氣壓力設定在0.6MPa. |
b 檢查Slide Valve前面O型圈,是否從槽里滑脫出來(lái)。 | ||
c 檢查泵油并視情況更換; | ||
d 檢測真空連接管線(xiàn) | ||
無(wú)信號 | 1 參數不合適;2 通訊故障;3儀器硬件損傷 | a、檢查儀器參數設置是否正確,嘗試調用以前正確參數。 |
b、重新開(kāi)關(guān)儀器和計算機。 | ||
C.如果現象依舊,請聯(lián)系Thermofisher維修工程師來(lái)進(jìn)一步排查故障 | ||
信號很低 | 1 參數不合適;2 進(jìn)樣系統包括泵,泵管,矩管,霧化室,霧化器故障;3儀器硬件損傷;4 錐口堵塞;5 質(zhì)量軸不準;5 檢測器電壓不合適 | a、檢查并確認溶液濃度。采用Tune-B(大瓶調諧液)做Autotune。 |
b、檢查儀器參數設置是否正確,嘗試調用以前正確參數。 | ||
c、檢查并更換進(jìn)樣系統,包括霧化器、中心管、炬管、泵管等。 | ||
d、確保冷卻氣和輔助氣的回讀值均正確無(wú)誤且保持穩定。 | ||
e、確保擴散區真空度回讀值接近 1.9 mbar (± 0.1 mbar)。否則更換樣品錐、截取錐和嵌片。 | ||
f、采用 Calibration solution (小瓶校正液)做Mass Calibration. | ||
g、檢查四級桿發(fā)生器振蕩頻率是否在1.9-2.1MHZ之間,若不在此范圍需報修。 | ||
信號穩定性差 | 1 錐口堵塞;2 霧化器堵塞;3 泵管損傷或者松緊不合適,蠕動(dòng)泵損傷;4 霧化器,霧化室損傷;5 矩管損傷;6 真空或者半導體溫度不穩定 | a 確保吸入溶液的溶解固體總量未超過(guò)建議水平。 |
b 檢查實(shí)驗室溫度是否穩定。 | ||
c 檢查為儀器冷卻水溫度是否穩定。 | ||
d 確保氣體管路連接牢固、沒(méi)有纏結、沒(méi)有卡住。 | ||
e 確保儀表板上的氣流回讀值保持穩定。 | ||
f 確保蠕動(dòng)泵泵管完好無(wú)損且無(wú)堵塞,并且泵管正確安裝在蠕動(dòng)泵上,泵夾松緊適中。 | ||
g 確保霧化器完好無(wú)損且未堵塞。 | ||
h 確保霧化器管道完好無(wú)損且未堵塞。 | ||
i 確保霧化室完好無(wú)損且無(wú)積液。 | ||
j 確保等離子體炬管完好無(wú)損且無(wú)裂痕或熔化。 | ||
k 確保炬管安裝正確。 | ||
l 確保蠕動(dòng)泵的泵速度保持穩定。 | ||
m 確保真空系統保持穩定。 | ||
n 確保 Peltier 半導體制冷溫度穩定 | ||
結果不準確 | 1 基體效應;2質(zhì)譜干擾;3標準曲線(xiàn)問(wèn)題 | a 如果檢出限允許的話(huà),簡(jiǎn)單的辦法是對樣品進(jìn)行稀釋。 |
b使用內標校正,內標回收率太低,則需要再稀釋樣品,或者使用標準加入法; | ||
c 使用標準加入法; | ||
d 氬氣氣溶膠稀釋 (前提是需要使用ESI進(jìn)樣系統); | ||
e 采用化學(xué)分離法將樣品中的基體進(jìn)行分離去掉; | ||
f 使用KED技術(shù)、干擾方程; | ||
g 重新配置標準曲線(xiàn) | ||
線(xiàn)性較差 | 1 污染或者干擾;2 交叉校正參數不合適;3標準曲線(xiàn)問(wèn)題 | a 對檢測器進(jìn)行交叉校正; |
b 使用KED技術(shù),干擾方程等手段解決污染與干擾; | ||
c 改變標品濃度,使得樣品濃度處于標曲濃度范圍內; | ||
d 重配標準曲線(xiàn) | ||
Hg信號不穩且殘留嚴重; | 1 穩定時(shí)間不夠;2 管線(xiàn)上殘留 | a 延長(cháng)提取和沖洗時(shí)間; |
b 控制濃度,建議濃度在20ppb以下 ; | ||
c 用金溶液配制和用金溶液清洗; | ||
空白值高 | 污染 | 分段排查:儀器背景(Instrument background);水空白(Water blank);酸空白(Dilute acid blank);樣品空白(Sample preparation blank) |
內標不穩定或者回收率異常 | 1 進(jìn)樣系統問(wèn)題;2樣品或質(zhì)控樣中有污染或干擾 | a 檢查進(jìn)樣系統包括泵管、中心管、錐等等; |
b 檢查樣品中是否有內標干擾物或本身還有內標; | ||
c 檢查質(zhì)控樣中是否有干擾物, 關(guān)鍵時(shí)使用稀釋?zhuān)?/span>KED,更換測試同位素等辦法去掉干擾 |